News

Interview

Future trends for verification

Martin Barnasconi from NXP and Alex Rath from Infineon Technologies talk to Nick Flaherty about the challenges for the verification industry revealed at DVcon Europe, from UVM and Python to digital twins and instrumentation.

Products

Design center

Vous êtes certain ?

Si vous désactivez les cookies, vous ne pouvez plus naviguer sur le site.

Vous allez être rediriger vers Google.